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科研動態(tài)

微電子所國家創(chuàng)新研究群體項目順利通過結(jié)轉(zhuǎn)驗收

稿件來源: 發(fā)布時間:2015-12-14

  近期,根據(jù)國家自然科學(xué)基金委信息科學(xué)部通知,微電子所劉明院士牽頭的“新型微電子器件集成的基礎(chǔ)研究”創(chuàng)新群體順利通過結(jié)轉(zhuǎn)檢查和評審。 

  “新型微電子器件集成的基礎(chǔ)研究”創(chuàng)新群體于2012年獲批為國家創(chuàng)新研究群體,2013—2015年展開第一期研究,在前瞻性基礎(chǔ)科學(xué)研究和部分研究成果轉(zhuǎn)化應(yīng)用方面成績顯著。期間完成了新型微電子材料和結(jié)構(gòu)、基于新型微電子器件的電路設(shè)計、集成加工技術(shù)及應(yīng)用等三個方面的計劃任務(wù),建立了阻變存儲器(RRAM)的物理模型,提出了RRAM的基礎(chǔ)理論和關(guān)鍵技術(shù)方法,實現(xiàn)了高性能RRAM器件及其三維集成,在國際上產(chǎn)生了重要影響,多項工作被列入2013ITRS(國際半導(dǎo)體發(fā)展路線圖,被認(rèn)為是微電子技術(shù)發(fā)展的風(fēng)向標(biāo))。拓展了新型閃存材料和結(jié)構(gòu)體系,提出了可靠性表征新技術(shù)、存儲和失效模型,為存儲器產(chǎn)業(yè)發(fā)展提供了關(guān)鍵理論和技術(shù)。在企業(yè)生產(chǎn)線上開發(fā)了新型存儲材料/集成工藝/器件/可靠性/電路等成套技術(shù),相關(guān)專利和技術(shù)已經(jīng)轉(zhuǎn)移到企業(yè)。 

  國家自然科學(xué)基金委檢查組于928日組織對“新型微電子器件集成的基礎(chǔ)研究”進(jìn)行了結(jié)轉(zhuǎn)檢查和評審,聽取了關(guān)于創(chuàng)新群體的研究背景、工作進(jìn)展及創(chuàng)新性成果、學(xué)術(shù)交流和人才培養(yǎng)等方面的工作匯報,審議了群體延期資助的理由,對該群體的研究成果給予肯定,一致建議對該群體給予延期資助,并對后續(xù)研究工作提出期望。 

  國家自然科學(xué)基金委員會副主任高文院士、信息科學(xué)部常務(wù)副主任秦玉文研究員、信息科學(xué)部副主任張兆田研究員,微電子所所長葉甜春,副所長劉新宇和吳德馨院士等參加了評審會。 

評審會現(xiàn)場 

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