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科研動態(tài)

微電子所科研成果被Semiconductor Today專題報道

稿件來源: 發(fā)布時間:2016-04-14

  近日,微電子所科研成果——銦鎵砷(InGaAs)MOSFET射頻開關(guān)芯片被國際半導(dǎo)體行業(yè)著名雜志Semiconductor Today進行了專題報道。 

  高遷移率InGaAs MOSFET是在InGaAs HEMT器件的基礎(chǔ)上引入高K介質(zhì)金屬柵技術(shù)發(fā)展起來的新一代半導(dǎo)體器件,被國際學(xué)術(shù)界和半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)界認為是延展摩爾定律至5納米節(jié)點的主要技術(shù)選擇。微電子所高頻高壓器件與集成研發(fā)中心劉洪剛研究員課題組長期致力于InGaAs MOSFET器件及其應(yīng)用研究,在國家科技重大專項、973計劃、國家自然科學(xué)基金等多項國家級課題的支持下,先后在量子阱溝道設(shè)計、高K介質(zhì)與界面態(tài)控制、關(guān)鍵工藝與硅基異質(zhì)集成、器件模型與電路模擬等方面取得重要進展,相關(guān)成果已成功應(yīng)用于面向4G/5G移動通信的射頻開關(guān)芯片的研究。課題組研制的InGaAs MOSFET射頻開關(guān)芯片,在移動通信頻段表現(xiàn)出優(yōu)越的射頻開關(guān)特性,在0.1-3GHz無線通信頻段內(nèi)插入損耗為0.27-0.49dB,隔離度達到35-68dB,比傳統(tǒng)InGaAs HEMT射頻開關(guān)具有更高的射頻輸出功率和功率附加效率。該特性使InGaAs MOSFET技術(shù)在5G智能手機與高速WiFi中具有廣闊的應(yīng)用前景。 

  Semiconductor Today是總部位于英國具有獨立性和非盈利性的國際半導(dǎo)體行業(yè)著名雜志,專注于報道化合物半導(dǎo)體和先進硅半導(dǎo)體的重要研究進展和最新行業(yè)動態(tài),具有很強的行業(yè)影響力。

 

射頻開關(guān)器件和平面圖與單管剖面圖

 

  相關(guān)鏈接:http://www.semiconductor-today.com/news_items/2016/mar/cas_290316.shtml 

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