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論文題目: | CMOS射頻集成電路ESD保護的挑戰(zhàn) |
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作者: | 王自惠,林琳,王昕,劉海南,周玉梅 |
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刊物名稱: | 《半導(dǎo)體學(xué)報》 |
年: | 2008 |
卷: | 29 |
期: | 4 |
頁: | 628-636 |
聯(lián)系作者: | 王自惠 |
收錄類別: | |
影響因子: | |
摘要: | 隨著集成電路(IC)工藝進入深亞微米水平,以及射頻(Radio-Frequency, RF) IC工作頻率向數(shù)千兆赫茲頻段邁進,片上防靜電泄放(ESD)保護設(shè)計越來越成為RF IC設(shè)計的挑戰(zhàn). 產(chǎn)生這一挑戰(zhàn)的關(guān)鍵原因在于ESD保護電路和被保護的RF IC核電路之間存在著不可避免的復(fù)雜交互影響效應(yīng) . 本文討論了RF ESD保護的研究和設(shè)計領(lǐng)域的最新動態(tài),總結(jié)了所出現(xiàn)的新挑戰(zhàn)、新的設(shè)計方法和最新的RF ESD保護解決方案. |
英文摘要: | |
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科研產(chǎn)出