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論文編號:
第一作者所在部門:
論文題目: CMOS射頻集成電路ESD保護的挑戰(zhàn)
論文題目英文:
作者: 王自惠,林琳,王昕,劉海南,周玉梅
論文出處:
刊物名稱: 《半導(dǎo)體學(xué)報》
: 2008
: 29
: 4
: 628-636
聯(lián)系作者: 王自惠
收錄類別:
影響因子:
摘要:
隨著集成電路(IC)工藝進入深亞微米水平,以及射頻(Radio-Frequency, RF) IC工作頻率向數(shù)千兆赫茲頻段邁進,片上防靜電泄放(ESD)保護設(shè)計越來越成為RF IC設(shè)計的挑戰(zhàn). 產(chǎn)生這一挑戰(zhàn)的關(guān)鍵原因在于ESD保護電路和被保護的RF IC核電路之間存在著不可避免的復(fù)雜交互影響效應(yīng) . 本文討論了RF ESD保護的研究和設(shè)計領(lǐng)域的最新動態(tài),總結(jié)了所出現(xiàn)的新挑戰(zhàn)、新的設(shè)計方法和最新的RF ESD保護解決方案.  
 
英文摘要:
外單位作者單位:
備注: