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論文編號:
第一作者所在部門:
論文題目: PDSOI體源連接環(huán)形柵nMOS特性研究
論文題目英文:
作者: 畢津順,海潮和
論文出處:
刊物名稱: 《固體電子學(xué)研究與進展》
: 2008
: 28
: 1
:
聯(lián)系作者: 畢津順
收錄類別:
影響因子:
摘要:
提出了一種基于部分耗盡絕緣體上硅的體源連接環(huán)形柵nMOS器件,并討論了相應(yīng)的工藝技術(shù)和工作機理.采用體源連接環(huán)形柵器件結(jié)構(gòu),有效地抑制了浮體環(huán)形柵器件中存在的浮體效應(yīng)和寄生雙極晶體管效應(yīng),使器件性能得到很大的提高.消除了浮體環(huán)形柵器件的反常亞閾值斜率和Kink效應(yīng),DIBL從120.7 mV/V降低到3.45 mV/V,關(guān)態(tài)擊穿電壓從4.8 V提高到12.1 V.最后指出,體源連接環(huán)形柵器件非常適合于抗輻照加固等應(yīng)用領(lǐng)域.  
英文摘要:
外單位作者單位:
備注: