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論文編號: 1725110120160277
第一作者所在部門:
論文題目: Low-frequency noise spectroscopy of bulk and border traps in nanoscale devices
論文題目英文:
作者: Eddy Simoen
論文出處:
刊物名稱: Solid state Phenomena
: 2016
:
: 242
: 449
聯(lián)系作者: Eddy Simoen
收錄類別:
影響因子:
摘要:
英文摘要:
外單位作者單位:
備注: