| 論文編號: | 1725110120160275 |
| 第一作者所在部門: | |
| 論文題目: | Impact of the Effective Work Function Gate Metal on the Low-Frequency Noise of Gate-All-Around Silicon-on-Insulator NWFETs |
| 論文題目英文: | |
| 作者: | 方雯 |
| 論文出處: | |
| 刊物名稱: | IEEE Eletrcon Device Letters |
| 年: | 2016 |
| 卷: | 37 |
| 期: | 4 |
| 頁: | 363 |
| 聯(lián)系作者: | Eddy Simoen |
| 收錄類別: | |
| 影響因子: | |
| 摘要: | |
| 英文摘要: | |
| 外單位作者單位: | |
| 備注: | |
科研產(chǎn)出