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論文編號: 1725110120160241
第一作者所在部門:
論文題目: Improved Single-Event Hardness of Trench Power MOSFET with a Widened Split Gate
論文題目英文:
作者: 陸江
論文出處:
刊物名稱: radiation effects on components & systems conference
: 2016
:
: 2
: 12
聯(lián)系作者: 陸江
收錄類別:
影響因子:
摘要:
英文摘要:
外單位作者單位:
備注: