| 論文編號: | 1725110120160213 |
| 第一作者所在部門: | |
| 論文題目: | Surface potential measurement on contact resistance of amorphous-InGaZnO thin film transistors by Kelvin probe force microscopy |
| 論文題目英文: | |
| 作者: | 韓志恒 |
| 論文出處: | |
| 刊物名稱: | Applied Physics Letters |
| 年: | 2016 |
| 卷: | |
| 期: | 109 |
| 頁: | 023509-1 |
| 聯(lián)系作者: | 李泠 |
| 收錄類別: | |
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| 英文摘要: | |
| 外單位作者單位: | |
| 備注: | |
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