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論文編號: 1725110120160201
第一作者所在部門:
論文題目: FOI FinFET with Ultra-low Parasitic Resistance Enabled by Fully Metallic Source and Drain Formation on Isolated Bulk-Fin
論文題目英文:
作者: 張青竹
論文出處:
刊物名稱: IEDM
: 2016
:
: 1
: 1
聯(lián)系作者: 殷華湘
收錄類別:
影響因子:
摘要:
英文摘要:
外單位作者單位:
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