論文編號: | 1725110120160197 |
第一作者所在部門: | |
論文題目: | Study of total ionizing dose induced read bit errors in magneto-resistive |
論文題目英文: | |
作者: | 張浩浩 |
論文出處: | |
刊物名稱: | Microelectronics Reliability |
年: | 2016 |
卷: | |
期: | 67 |
頁: | 104 |
聯(lián)系作者: | 畢津順,劉明 |
收錄類別: | |
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科研產(chǎn)出