| 論文編號: | 1725110120160110 |
| 第一作者所在部門: | |
| 論文題目: | Remote interfacial dipole scattering on electron mobility degradation in Ge field-effect-transistor with GeOx/Al2O3 gate dielectrics |
| 論文題目英文: | |
| 作者: | 王曉磊 |
| 論文出處: | |
| 刊物名稱: | J.Phys. D |
| 年: | 2016 |
| 卷: | |
| 期: | 49 |
| 頁: | 1 |
| 聯(lián)系作者: | 王文武 |
| 收錄類別: | |
| 影響因子: | |
| 摘要: | |
| 英文摘要: | |
| 外單位作者單位: | |
| 備注: | |
科研產(chǎn)出