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論文編號: 1725110120160075
第一作者所在部門:
論文題目: Normally-Off GaN-on-Si MIS-HEMTs Fabricated with LPCVD-SiNx Passivation and High-Temperature Gate Recess
論文題目英文:
作者:
論文出處:
刊物名稱: IEEE Transactions on Electron Devices
: 2016
: 63
: 2
: 614
聯(lián)系作者: 黃森,王鑫華,劉新宇
收錄類別:
影響因子:
摘要:
英文摘要:
外單位作者單位:
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