教育背景
2000.09--2004.07 北京科技大學(xué)電子信息工程專業(yè)本科學(xué)習(xí)
2004.09--2009.06 中科院計算技術(shù)研究所計算機系統(tǒng)結(jié)構(gòu)專業(yè)碩博連讀研究生
工作簡歷
2009.07--2011.06 清華大學(xué)軟件學(xué)院博士后、助理研究員
2011.06--2019.03 中科院微電子研究所副研究員
2019.03--2019.04 中科院微電子研究所感知中心副主任、副研究員
2019.04-- 中科院微電子研究所感知中心副主任、研究員
中國計算機學(xué)會容錯計算專業(yè)委員會委員?！禝EEE Transactions on VLSI》、《Journal of Electronic Testing: Theory and Applications》、《INTEGRATION: The VLSI Journal》、《ETRI Journal》、《電子學(xué)報》與《計算機輔助設(shè)計與圖形學(xué)學(xué)報》期刊審稿人。2010年WRTLT國際會議程序主席。國家自然基金委評議人。
智能集成MEMS傳感器系統(tǒng)、物聯(lián)網(wǎng)系統(tǒng)應(yīng)用研究等。
1. 中國科學(xué)院戰(zhàn)略性先導(dǎo)科技專項（A類）“深海/深淵智能技術(shù)及海底原位科學(xué)實驗站”“深海原位智能芯片傳感器集成和應(yīng)用” ，2019/1-2023/12，XDA220201。
2. 國家科技重大專項，MEMS典型產(chǎn)品技術(shù)與設(shè)計服務(wù)平臺，2011.01-2015.12。
3. 中央級大型科學(xué)儀器設(shè)備購置項目“多功能多參數(shù)晶圓級MEMS測試系統(tǒng)”，2018/01-2018/12，420萬元。
4. 國家863課題，高性能SOI二極管型非制冷紅外成像陣列傳感器與系統(tǒng)，2015AA042605、2015/1 -2017/12、868萬元
5. 國家自然科學(xué)基金青年科學(xué)基金項目，61006017、基于測試向量分析的測試壓縮與測試功耗協(xié)同優(yōu)化方法研究、2011/01-2013/12、21萬元。
6. 國家自然科學(xué)基金面上項目，61370044、針對微機電系統(tǒng)的測試訪問與測試優(yōu)化方法研究、2014/01-2017/12，80萬元。
7. 國家重點研發(fā)計劃重點專項項目，深海高精度痕量金屬與溶解氣體分析系統(tǒng)研制，2017/1-2020/12。
8. 國家重點研發(fā)計劃“科技冬奧”重點專項“冬殘奧運動員運動表現(xiàn)提升的關(guān)鍵技術(shù)”，2018YF0300600，2019.01-2022.12。
9. 中國科學(xué)院科技服務(wù)網(wǎng)絡(luò)計劃（STS計劃）項目，物聯(lián)網(wǎng)核心芯片及應(yīng)用技術(shù)，2015.06-2017.06。
10. 中科院-北大率先合作團隊資助項目，201510280052 XMXX201200019933，250萬元。
11. 中國科學(xué)院微電子器件與集成技術(shù)重點實驗室課題，微機電系統(tǒng)內(nèi)建自測試設(shè)計方法研究，2014/01-2014/12，20萬。
12. 中國科學(xué)院計算機系統(tǒng)結(jié)構(gòu)重點實驗室開放課題“數(shù)字集成電路測試功耗與測試壓縮協(xié)同優(yōu)化研究” (ICT-ARCH200902)：2010.01-2011.12。
13. 中國博士后基金面上資助項目（一等），協(xié)同優(yōu)化測試數(shù)據(jù)量與測試功耗的測試向量分析方法研究、2009/07-2011/06，10萬元。
14. 江蘇省“六大人才高峰”項目：基于超高頻RFID的室內(nèi)定位核心技術(shù)及解決方案，2012.01-2014.12。
[1] 《數(shù)字集成電路測試優(yōu)化——測試壓縮、測試功耗優(yōu)化、測試調(diào)度》，北京：科學(xué)出版社，2010年6月，ISBN：978-7-03-027894-4（中國科學(xué)院科學(xué)出版基金資助）
[2] Kaiyue Zhou, Jia LI, Jianmao Li, Weibing Wang, Dapeng Chen, “A Fault-Tolerant BIST Design of MEMS Infrared Thermopile Sensor”, IEEE SENSORS, New Delhi, India, 2018.
[3] Jia LI, Zhuolei HUANG, Weibing WANG, “Built-In Self-Calibration of CMOS-Compatible Thermopile Sensor with On-Chip Electrical Stimulus”, IEEE Proc. of European Test Symposium (ETS), Paderborn, Germany, 2014.
[4] Jia Li, Yu Hu, Xiaowei Li, “Scan Chain Design for Shift Power Reduction in Scan-based Testing”, Science China F: Information Sciences, 54(4), April 2011, pp.767-777.
[5] Jia Li, Xiao Liu, Yubin Zhang, Yu Hu, Xiaowei Li and Qiang Xu, “Capture-power-aware test data compression using selective encoding”, Integration: The VLSI Journal, 44(3), June 2011, pp. 205-216.
[6] Jia Li, Qiang Xu, Yu Hu, and Xiaowei Li，“X-Filling for Simultaneous Shift- and Capture-Power Reduction in At-Speed Scan-Based Testing, ” IEEE Transactions on Very Large Scale Integration Systems, 18(7), pp. 1081-1092, 2010.
[7] Jia Li, Yu Huang and Dong Xiang, “Prediction of Compression Bound and Optimization of Compression Architecture for Linear Decompression-based Schemes”, IEEE VLSI Test Symposium (VTS), Dana Point, USA, 2011, pp. 297-302.
[8] Jia Li and Dong Xiang, “DfT Optimization for Pre-Bond Testing of 3D-SICs containing TSVs”, Proc. International Conference on Computer Design (ICCD), Amsterdam, Netherlands, paper 33, 2010.
[9] Jia Li, Xiao Liu, Yubin Chen, Yu Hu, Xiaowei Li, and Qiang Xu. “On Capture Power-Aware Test Data Compression for Scan-Based Testing”, Proc. International Conference of Computer-Aided Design (ICCAD), San Jose, USA, pages 67-72, 2008.
[10] Jia Li, Qiang Xu, Yu Hu and Xiaowei Li. “iFill: An Impact-Oriented X-Filling Method for Shift- and Capture-Power Reduction in At-Speed Scan-Based Testing”, Proc. IEEE/ACM Design, Automation, and Test in Europe (DATE), Munich, Germany, pages 1184-1189, 2008.
[11] Jia Li, Qiang Xu, Yu Hu and Xiaowei Li. “On Reducing Both Shift and Capture Power for Scan-Based Testing”, Proc. IEEE/ACM Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC), Seoul, Korea, pages 653-658, 2008.
[12] Jia LI, Qiang XU, Yu HU, and Xiaowei LI. “On Improving Channel Utilization in Testing NoC-Based Systems”, Dig. of 12th IEEE European Test Symposium (ETS), Freiburg, Germany, 2007.
1. 一種測試外殼電路及其設(shè)計方法，專利授權(quán)號：ZL200610090243.4
2. 一種片上多核處理器的測試電路及其可測試性設(shè)計方法，專利授權(quán)號：ZL 200710304267.X
3. 李佳、王瑋冰，針對微機電集成系統(tǒng)的內(nèi)建自測試系統(tǒng)。專利申請?zhí)枺?01210360676.2，已授權(quán)。
4. 李佳、王瑋冰、徐中龍，紅外熱電堆溫度傳感器的自校正電路 。專利申請?zhí)枺?01310319415.0，已授權(quán)。
5. 徐中龍、李佳、王瑋冰，通用從機同步串行接口電路。專利申請?zhí)枺?01310465134.6，已授權(quán)。
6. 徐中龍、李佳、王瑋冰，具有自校正功能的紅外熱電堆溫度傳感器的溫度計算模塊及溫度計算方法。專利申請?zhí)枺?01310633878.4，已授權(quán)。
7. 李佳、王瑋冰，一種紅外熱電堆內(nèi)建自測試電路及方法。專利申請?zhí)枺?01510266254.2
8. 余丹、李佳，紅外熱電堆溫度傳感器的自測試和自校準(zhǔn)系統(tǒng)。專利申請?zhí)枺?01510767381.0，已授權(quán)。
9. 余丹、李佳，平行板電容型MEMS加速度計內(nèi)建自測試電路及自測試方法，專利申請?zhí)枺?01610161273.3，已授權(quán)。
10. 何青，王瑋冰，李佳，侯影，孫業(yè)超，一種微弱信號讀出電路，專利申請?zhí)枺?01610192403.X，已授權(quán)
11. 何青，王瑋冰，李佳，一種模數(shù)轉(zhuǎn)換電路，專利申請?zhí)枺?01610217816.9
12. 黃寬，李佳，王瑋冰，一種自測試紅外熱電堆溫度傳感器及自測試方法，專利申請?zhí)?01710278547.1，2017.4.23
13. 黃寬，李佳，王瑋冰，一種自校準(zhǔn)紅外熱電堆溫度傳感器及自校準(zhǔn)方法，專利申請?zhí)?01710278540.X，2017.4.25
14. 許建軍，王瑋冰，李佳。陀螺儀自校準(zhǔn)裝置及方法[P]，專利申請?zhí)枺?01710269720.1。
15. 許建軍，王瑋冰，李佳。陀螺儀自校準(zhǔn)和陀螺儀質(zhì)量塊擺幅測量裝置、方法[P]，專利申請?zhí)枺?01710269924.5。
16. 李建茂，李佳，王瑋冰，何征齡，賈天震，智能可穿戴設(shè)備情緒感知功能的硬件實現(xiàn)方法及組合[P]，專利申請?zhí)枺?01711235556.9
17. 李建茂，李佳，王瑋冰，硅微諧振式加速度計及其自測試方法[P]，申請?zhí)枺?01810170248.0
2016年 中國計量測試學(xué)會科學(xué)技術(shù)進(jìn)步獎二等獎
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