教育背景
2004.09--2008.07 北京理工大學,電子科學與技術(shù)專業(yè),本科
2008.07--2010.07 北京理工大學,光學工程專業(yè),研究生
工作簡歷
2010.07--2011.06 中科院成都光電所,光學檢測,光學工程師
2011.07--2015.09 中科院微電子所,設(shè)備中心,精密測控系統(tǒng)設(shè)計,光學工程師
2015.09--2019.01 深圳中科飛測有限公司(北京分公司),三維形貌檢測,光學工程師
2019.02—至今 中科院微電子所,光刻技術(shù)總體部,光學設(shè)計,高級工程師
申請發(fā)明專利
[1]一種光學精密系統(tǒng)的對準裝置, 發(fā)明, 專利號: 201410185976.0
[2]一種調(diào)焦調(diào)平傳感器測量裝置, 發(fā)明, 專利號: 201410374962.3
[3]一種垂向調(diào)整裝置, 發(fā)明, 專利號: 201410374962.3
[4]反射式光學系統(tǒng)及其裝調(diào)測試方案,發(fā)明,專利號: 201911212108.6
[5]用于EUV真空環(huán)境中的光電轉(zhuǎn)換電子學裝置及光刻機,發(fā)明,
專利號: 201911212670.9
人才隊伍