教育背景
1996.09-2000.07,浙江大學(xué)光電信息工程系,光學(xué)工程,工學(xué)學(xué)士
2001.09-2009.01,清華大學(xué)精密儀器系,光學(xué)工程,碩博連讀,工學(xué)博士
工作簡(jiǎn)歷
2009.05-2018.10,中國(guó)科學(xué)院光電研究院,投影光學(xué)室,助理研究員、副研究員、研究員
2018.11-至今, 中國(guó)科學(xué)院微電子研究所,光電技術(shù)研發(fā)中心,研究員
1.中國(guó)計(jì)量測(cè)試學(xué)會(huì)真空計(jì)量專業(yè)委員會(huì)副主任委員
2.全國(guó)真空技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)委員
3.中國(guó)真空學(xué)會(huì)質(zhì)譜分析與檢漏專委會(huì)委員
4.中國(guó)真空學(xué)會(huì)真空冶金專業(yè)委員會(huì)委員
5.《真空與低溫》編委1.國(guó)家科技重大專項(xiàng)“EUV基礎(chǔ)共性技術(shù)研究”,主持人,在研
2.國(guó)家科技重大專項(xiàng)“EVUL動(dòng)態(tài)真空與熱環(huán)境技術(shù)研究”,主持人,在研
3.國(guó)家科技重大專項(xiàng)“高NA投影曝光光學(xué)系統(tǒng)及其產(chǎn)業(yè)化發(fā)展研究”,主持人,結(jié)題
4.國(guó)家科技重大專項(xiàng)“20W 4kHz ArF曝光光源研發(fā)”,參與,結(jié)題1. Y. Luo, X. Wu, K. Wang, Y. Wang. Comparative study on surface influence to outgassing performance of aluminum alloy. Applied Surface Science. 2020, 502(144166):1-8.
2. Min Lei, Xiaobin Wu, Wei Zhang, Xiaoping Li, Xuedong Chen,The implementation of subsonic boundary conditions for the direct simulation Monte Carlo method in dsmcFoam, Computers and Fluids, 156 (2017) 209–219.
3. Y. Luo, X. Wu, K. Wang, Y. Wang. Comparative Study on the Outgassing Rate of Materials using Different Methods. MAPAN-Journal of Metrology Society of India. 2016, 31(1):61-68.
4. 羅艷,王魁波,張羅莎,吳曉斌,王宇. 聚合物的放氣分率與放氣模型研究. 真空科學(xué)與技術(shù)學(xué)報(bào).2015,35(9):1100-1104.
5. 羅艷,王魁波,吳曉斌. 極紫外光刻機(jī)真空材料放氣分率的單質(zhì)譜測(cè)試方法研究. 質(zhì)譜學(xué)報(bào).2018,39(4):392-398.
6. Xiaobin Wu, Yan Luo, Kuibo Wang. Obtaining and Maintaining of Clean High Vacuum on the Material Outgassing Test System. KEM-Key Engineering Materials. 2017,723:111-118.
7. 羅艷,王魁波,吳曉斌,王宇. 高精度真空材料放氣測(cè)試研究. 真空科學(xué)與技術(shù)學(xué)報(bào). 2016,36(3):251-257.
8. 羅艷,吳曉斌,周翊,王宇. 準(zhǔn)分子激光與SiC 陶瓷的相互作用研究. 激光與光電子學(xué)進(jìn)展.2016,53(121403):1-6.
9. 羅艷,王魁波,吳曉斌,王宇. 超高精度質(zhì)譜檢出限的測(cè)試技術(shù)研究. 真空科學(xué)與技術(shù)學(xué)報(bào).2018,38(11):938-943.
10. 羅艷,吳曉斌,王魁波. 高精度四極質(zhì)譜檢測(cè)限測(cè)試和影響因素分析. 分析測(cè)試技術(shù)與儀器. 2019,(25)4:211-218.申請(qǐng)國(guó)家發(fā)明專利40余項(xiàng),授權(quán)20余項(xiàng);授權(quán)實(shí)用新型專項(xiàng)30余項(xiàng);申請(qǐng)PCT國(guó)際專利4項(xiàng),部分專利如下:
1. 多元合金薄膜的制備裝置及其制備方法.國(guó)際. PCT/CN2017/116599.
2. 多元合金薄膜的制備裝置及其制備方法. 中國(guó). ZL201711125054.0.
3. 一種聚合物輻照損傷測(cè)試裝置. 中國(guó). ZL201520877033.4.
4. 一種材料輻射致放氣的在線測(cè)試裝置.中國(guó). ZL201621345502.9.
5. 一種高精度質(zhì)譜檢出限的檢測(cè)裝置. 中國(guó).ZL201820946643.9.
6. 一種材料輻射致氣體滲透的測(cè)試裝置. 中國(guó).ZL201621138020.6.
7. 一種材料分壓放氣率測(cè)試裝置及方法.中國(guó). ZL201510427893.2.
8. 一種分壓漏率測(cè)量裝置及方法. 中國(guó). ZL201610473484.0.
9. 一種使用電場(chǎng)降低碎屑的方法、裝置和EUV光源系統(tǒng). 中國(guó). ZL201310538366.X.
10. 一種用于激光光源的液態(tài)金屬靶產(chǎn)生裝置. 中國(guó). ZL 201310182436.2.
11. 一種極紫外光源性能參數(shù)的測(cè)量系統(tǒng). 中國(guó). ZL201510772679.0.
12. 一種可在線測(cè)量能量的極紫外輻照損傷測(cè)試系統(tǒng). 中國(guó). ZL201610548432.5.
13. 一種反射式光學(xué)元件溫控系統(tǒng). 中國(guó).ZL201310665292.6.
14. 真空密封件分壓漏率測(cè)量系統(tǒng)及其測(cè)量方法. 中國(guó).ZL201310275992.4.
15. 用于極紫外光刻板級(jí)電子學(xué)系統(tǒng)的真空密封裝置.中國(guó). ZL201620189119.2
16. 一種用于極紫外光刻板級(jí)電子學(xué)系統(tǒng)的散熱裝置. 中國(guó). ZL201620185955.3.
人才隊(duì)伍