教育背景
2008年9月-2013年5月， 西安交通大學(xué)電信學(xué)院，控制科學(xué)與工程，博士學(xué)位
2003年9月-2006年4月， 西安交通大學(xué)學(xué)院經(jīng)金學(xué)院，應(yīng)用經(jīng)濟(jì)學(xué)，碩士學(xué)位
1996年9月-2000年5月， 武漢大學(xué)物理系，應(yīng)用物理學(xué)，本科，學(xué)士學(xué)位
工作簡歷
2018年9月-至今 中國科學(xué)研微電子研究所， 副研究員
2007年8月-2018年9月，西安建筑科技大學(xué)，機(jī)電工程學(xué)院，助教，講師，副教授
2012年2月-2013年2月，美國俄亥俄州立大學(xué)，電子信息工程學(xué)院，訪問學(xué)者
2006年12月-2007年6月，賽貝斯軟件中國有限公司，軟件測試工程師
2006年5月-2006年11月，深圳華為技術(shù)有限公司， 項(xiàng)目管理工程師
2002年8月-2003年7月， 北京藍(lán)色之星科技有限公司，軟件工程師
2002年3月-2002年6月， 清華同方光盤股份有限公司，軟件工程師
2000年7月-2002年1月， 西安原相科技股份有限公司，軟件工程師
四川電子學(xué)會可靠性分會專委委員
主持國家研究項(xiàng)目：
[1] 國家自然科學(xué)基金青年項(xiàng)目：基于系統(tǒng)圖譜的流程工業(yè)生產(chǎn)系統(tǒng)運(yùn)行健康狀態(tài)分析方法研究，批準(zhǔn)號：51705393，起止年月：2018/01-2020/12，經(jīng)費(fèi)：21萬元
[2] 基礎(chǔ)研究項(xiàng)目，子課題負(fù)責(zé)人，已立項(xiàng)
參與國家科研項(xiàng)目：
“2017年度國家重點(diǎn)研發(fā)計(jì)劃重大科學(xué)儀器開發(fā)重點(diǎn)專項(xiàng)”的子課題“關(guān)鍵電路集成芯片驗(yàn)證”（項(xiàng)目編號：2017YF0106602）
發(fā)表論文：
[1] Sun Kai, Wu Jin, Semiconductor chip’s quality analysis based on its high dimensional test data[J],Annals of Operations Research, 2019, S.I. : RELIABILITY MODELING WITH APPLICATIONS BASED ON BIG DATA
[2] Gao Xu，Gao Jianmin, Sun Kai etc. Online Fault Diagnosis of Modern Process industry System based on Color-spectrum, Journal of Shanghai Jiaotong University (Science) 2016,21（5）:621-628
[3] Sun Kai, Gao Jianmin, Gao Zhiyong, Jiang Hongquan, Gao Xu, Plant-wide quantitative assessment of a process industry system’s operating state based on color-spectrum[J], Mechanical Systems and Signal Processing. 2015（60-61）:644-655
[4]孫鍇，高建民，高智勇，基于數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)的系統(tǒng)彩色圖譜分析現(xiàn)代工業(yè)系統(tǒng)健康狀態(tài)[J]. 機(jī)械工程學(xué)報(bào)，2012年48卷第18期：186-191（機(jī)械行業(yè)權(quán)威期刊，EI:20124415622518）
出版專著
[1] 基于系統(tǒng)圖譜的復(fù)雜機(jī)電系統(tǒng)狀態(tài)分析方法，西北工業(yè)大學(xué)出版社，2016年8月，ISBN：978-7-5612-5079-2
出版教材
[1] 電氣工程中的電磁場，西北工業(yè)大學(xué)出版社，2016年8月，ISBN：978-7-5612-5078-5獲得國家發(fā)明專利：
[1]高建民,孫鍇,高智勇,陳富民,姜洪權(quán),基于二維彩色數(shù)字圖譜的復(fù)雜機(jī)電系統(tǒng)狀態(tài)評估方法[P].中國.專利號: ZL201110146488.5
[2] 孫鍇，基于故障數(shù)據(jù)灰度圖譜的半導(dǎo)體芯片批量測試方法[P]，專利號：201611199475.3
獲得軟件著作權(quán)
[1] 孫鍇，品安半導(dǎo)體測試數(shù)據(jù)分析軟件V2.0， 登記號： 2017SR373272
申請國家發(fā)明專利
[1] 孫鍇，非線性海量高維序列數(shù)據(jù)分類特性可視化及定量分析方法[P]，申請?zhí)枺?span lang="EN-US">20171047831.0
人才隊(duì)伍