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專利名稱: 一種高電子遷移率晶體管器件的自對準(zhǔn)制作的方法
專利類別:
申請?zhí)?/strong>: 95104297.1
申請日期: 1995-05-04
專利號(hào): CN1121259
第一發(fā)明人: 高士平 程秀玲
其它發(fā)明人:
國外申請日期:
國外申請方式:
專利授權(quán)日期:
繳費(fèi)情況:
實(shí)施情況:
專利證書號(hào):
專利摘要: 一種高電子遷移率晶體管器件〈HEMT〉的自對準(zhǔn)制作的方法,涉及到在合格基片的管芯臺(tái)面上,制作其上面重疊覆蓋有絕緣膜層的源電極和漏電極,兩電極間距為尺寸與器件柵長相近的夾縫,在夾縫和其他圖形側(cè)壁上制作絕緣隔離側(cè)墻后,在夾縫有效窗口上制作器件柵極肖特基結(jié)及其上面柵電極,從而實(shí)現(xiàn)柵極與源、漏電極自對準(zhǔn)的方法。
其它備注: