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專利名稱: 在碳化硅基襯底上獲得高速電學(xué)材料結(jié)構(gòu)的方法
專利類別:
申請?zhí)?/strong>: 02119900.0
申請日期: 2002-05-17
專利號: CN1459822
第一發(fā)明人: 張海英
其它發(fā)明人:
國外申請日期:
國外申請方式:
專利授權(quán)日期:
繳費(fèi)情況:
實(shí)施情況:
專利證書號:
專利摘要: 本發(fā)明一種在碳化硅基襯底上獲得高速電學(xué)材料結(jié)構(gòu)的方法,包括如下步驟:1)取表面生長有碳化硅單晶層的硅材料或碳化硅單晶材料,進(jìn)行清洗處理,作為高速器件結(jié)構(gòu)的外延的襯底;2)在碳化硅單晶外延層上生長晶格漸變過渡層;3)進(jìn)行電學(xué)結(jié)構(gòu)生長;4)利用獲得的材料制作器件或電路;5)器件或電路正面工藝結(jié)束后,將背面的硅去掉,以保證器件的良好散熱性能。
其它備注: