專利名稱: | 在碳化硅基襯底上獲得高速電學(xué)材料結(jié)構(gòu)的方法 |
專利類別: | |
申請?zhí)?/strong>: | 02119900.0 |
申請日期: | 2002-05-17 |
專利號: | CN1459822 |
第一發(fā)明人: | 張海英 |
其它發(fā)明人: | |
國外申請日期: | |
國外申請方式: | |
專利授權(quán)日期: | |
繳費(fèi)情況: | |
實(shí)施情況: | |
專利證書號: | |
專利摘要: | 本發(fā)明一種在碳化硅基襯底上獲得高速電學(xué)材料結(jié)構(gòu)的方法,包括如下步驟:1)取表面生長有碳化硅單晶層的硅材料或碳化硅單晶材料,進(jìn)行清洗處理,作為高速器件結(jié)構(gòu)的外延的襯底;2)在碳化硅單晶外延層上生長晶格漸變過渡層;3)進(jìn)行電學(xué)結(jié)構(gòu)生長;4)利用獲得的材料制作器件或電路;5)器件或電路正面工藝結(jié)束后,將背面的硅去掉,以保證器件的良好散熱性能。 |
其它備注: | |
科研產(chǎn)出