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專利名稱: 一種斜面光接收的光電探測器
專利類別:
申請?zhí)?/strong>: 200710099874.7
申請日期: 2007-05-31
專利號: CN101315955
第一發(fā)明人: 申華軍 李志華 楊成樾 萬里兮 李寶霞
其它發(fā)明人:
國外申請日期:
國外申請方式:
專利授權日期:
繳費情況:
實施情況:
專利證書號:
專利摘要: 本發(fā)明涉及光互聯(lián)通信的光電探測器件技術領域,公開了一種斜面光
接收的光電探測器,該光電探測器光接收的有源區(qū)位于半導體襯底被腐蝕
后形成的V型槽的一個斜面上,有源區(qū)從斜面表面向外依次包括緩沖層、
n型歐姆接觸層、本征層和p型歐姆接觸層,有源區(qū)的上表面為單電極或
雙電極。本發(fā)明提供的斜面光接收的光電探測器,有源區(qū)位于器件的斜面
上,能夠與各種類型的電路板上的光波導實現(xiàn)直接光路耦合,不需要光路
傳輸方向的轉(zhuǎn)變,形成簡便高效的光探測接收端,簡化了光路的耦合對準。
由于不需要光路傳輸方向的轉(zhuǎn)變,因而也就不需要精密的光路對準裝置,
使得工藝和對準的難度大大降低,成本下降,并減少了光損耗,提高了耦
合效率。
其它備注: