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專利名稱: 基于雙層膠工藝制作X射線曝光掩膜的方法
專利類別:
申請(qǐng)?zhí)?/strong>: 200710178777.7
申請(qǐng)日期: 2007-12-05
專利號(hào): CN101452203
第一發(fā)明人: 劉興華 涂德鈺 朱效立 謝常青 劉 明
其它發(fā)明人:
國外申請(qǐng)日期:
國外申請(qǐng)方式:
專利授權(quán)日期:
繳費(fèi)情況:
實(shí)施情況:
專利證書號(hào):
專利摘要: 本發(fā)明公開了一種制作X射線曝光掩膜的方法,該方法包括:在
硅襯底正面涂敷自支撐薄膜;在卡具的保護(hù)下,對(duì)硅襯底的背面進(jìn)行
各向同性刻蝕,形成鏤空的自支撐薄膜;在自支撐薄膜正面蒸鍍金屬
薄膜,作為電鍍襯底;在金屬薄膜上涂敷雙層電子束光刻膠;對(duì)涂敷
的雙層電子束光刻膠進(jìn)行電子束光刻、顯影、反應(yīng)離子刻蝕,形成雙
層光刻膠圖形;在雙層光刻膠圖形上電鍍金屬,形成X射線曝光掩膜
的阻擋層;剝離雙層電子束光刻膠,去除電鍍襯底。利用本發(fā)明,有
效的避免了襯底和金屬薄膜產(chǎn)生的背散射電子對(duì)上層膠的曝光,從而
提高了電子束光刻的精度,減小了負(fù)性電子束膠留膜率高的問題。
其它備注: