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專利名稱: 一種制備硅納米晶薄膜的方法
專利類別:
申請(qǐng)?zhí)?/strong>: 200710179368.9
申請(qǐng)日期: 2007-12-12
專利號(hào): CN101457346
第一發(fā)明人: 陳 晨 賈 銳 李維龍 劉 明 陳寶欽 龍世兵 謝常青 涂德鈺 劉 琦
其它發(fā)明人:
國外申請(qǐng)日期:
國外申請(qǐng)方式:
專利授權(quán)日期:
繳費(fèi)情況:
實(shí)施情況:
專利證書號(hào):
專利摘要: 本發(fā)明公開了一種制備硅納米晶薄膜的方法,包括:在硅襯底上
熱生長二氧化硅層;將一定配比的硅粉末和二氧化硅粉末的混合物作
為靶材通過磁控濺射法沉積至所述二氧化硅層上,形成富硅的混合物
薄膜層;在氮?dú)鈿夥障聦⑿纬傻幕旌衔锉∧痈邷赝嘶鹦纬晒杓{米晶
薄層。采用本發(fā)明提供的方法制備的納米晶直徑在4至6nm,主要應(yīng)
用于硅單電子器件、單電子存儲(chǔ)器、硅納米晶浮柵存儲(chǔ)器、納米晶光
電探測器等器件的制備中,適合大規(guī)模生產(chǎn)的要求。
其它備注: