專利名稱: | 適用于增強型InGaP/AlGaAs/InGaAs PHEMT器件的柵退火方法 |
專利類別: | |
申請?zhí)?/strong>: | 200710303895.6 |
申請日期: | 2007-12-26 |
專利號: | CN101471260 |
第一發(fā)明人: | 黎 明 徐靜波 付曉君 |
其它發(fā)明人: | |
國外申請日期: | |
國外申請方式: | |
專利授權(quán)日期: | |
繳費情況: | |
實施情況: | |
專利證書號: | |
專利摘要: | 本發(fā)明公開了一種適用于增強型InGaP/AlGaAs/InGaAs PHEMT 器件的柵退火方法,該方法包括:采用濕法腐蝕形成隔離臺面,然后 光刻柵條;蒸發(fā)Ti/Pt/Au柵金屬結(jié)構(gòu),接著常規(guī)剝離形成金屬圖形; 最后在高溫快速退火爐內(nèi),在氮氣氣氛下退火,溫度范圍為280至320 度,時間為10至40分鐘,形成增強型器件柵極。利用本發(fā)明,解決 了DCFL IC的邏輯擺幅Vm小(受勢壘高度的固有限制)的問題,達 到了精確控制E-HEMT域值電壓Vth的目的,成功制作了穩(wěn)定一致的 增強型器件,保證了增強型器件域值電壓在零以上,確保了E/D型器 件及其邏輯電路正常工作。 |
其它備注: | |
科研產(chǎn)出