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專利名稱: 存儲器及其制作方法
專利類別:
申請?zhí)?/strong>: 200910078245.5
申請日期: 2009-02-23
專利號: CN101494225
第一發(fā)明人: 劉 明 王 琴 胡 媛 郭婷婷
其它發(fā)明人:
國外申請日期:
國外申請方式:
專利授權(quán)日期:
繳費情況:
實施情況:
專利證書號:
專利摘要: 本發(fā)明公開了一種冠狀勢壘復(fù)合隧穿層的納米晶浮柵非易失存儲器,
包括:硅襯底,在硅襯底上重摻雜的源導(dǎo)電區(qū)和漏導(dǎo)電區(qū),在源、漏導(dǎo)電
區(qū)之間的載流子溝道上覆蓋的由高k材料介質(zhì)/SiO2材料介質(zhì)/高k材料介
質(zhì)組成的復(fù)合隧穿層,在復(fù)合隧穿層上覆蓋的納米晶浮柵層、在納米晶浮
柵層上覆蓋的高k材料或SiO2材料控制柵介質(zhì)層,和在控制柵介質(zhì)層上覆
蓋的柵材料層。同時公開了一種制作上述存儲器的方法。利用本發(fā)明,綜
合改善了浮柵非易失存儲器的存儲性能,提高了編程/擦除速度和耐受性、
數(shù)據(jù)保持特性,降低了編程/擦除電壓和操作功耗,折衷了編程/擦除效率
和數(shù)據(jù)保持的矛盾,提高了集成度,并且制作工藝簡單,降低了制作成本。
其它備注: