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專利名稱: 一種制備鏤空的聚酰亞胺蒸發(fā)掩模漏版的方法
專利類別:
申請(qǐng)?zhí)?/strong>: 200810104760.1
申請(qǐng)日期: 2008-04-23
專利號(hào): CN101566799
第一發(fā)明人: 甄麗娟 商立偉 劉 明 劉興華 涂德鈺 劉 舸
其它發(fā)明人:
國(guó)外申請(qǐng)日期:
國(guó)外申請(qǐng)方式:
專利授權(quán)日期:
繳費(fèi)情況:
實(shí)施情況:
專利證書號(hào):
專利摘要: 本發(fā)明是一種用于半導(dǎo)體器件制造的蒸發(fā)掩模漏版的制備方法。其工
藝步驟如下:1.在雙面拋光的硅片襯底上形成聚酰亞胺薄膜層;2.在聚
酰亞胺薄膜層上形成光刻膠圖形;3.在聚酰亞胺和光刻膠圖形層上蒸發(fā)
金屬層;4.剝離形成金屬阻擋層;5.在卡具保護(hù)下從背面對(duì)硅襯底進(jìn)行
腐蝕形成鏤空的聚酰亞胺自支撐膜;6.在金屬阻擋層的掩蔽下從正面進(jìn)
行反應(yīng)離子刻蝕形成聚酰亞胺掩模圖形;7.去除金屬阻擋層,完成聚酰
亞胺掩模漏版的制作。利用聚酰亞胺材料制作漏版,工藝難度小,圖形尺
寸精度高,制造成本低,適合于有機(jī)半導(dǎo)體器件制備領(lǐng)域的大面積圖形化
過程。
其它備注: