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專利名稱: 一種HfSiON高K柵介質(zhì)材料的腐蝕劑及腐蝕方法
專利類別:
申請?zhí)?/strong>: 200910304802.0
申請日期: 2009-07-24
專利號(hào): CN101619457
第一發(fā)明人: 李永亮 徐秋霞
其它發(fā)明人:
國外申請日期:
國外申請方式:
專利授權(quán)日期:
繳費(fèi)情況:
實(shí)施情況:
專利證書號(hào):
專利摘要: 本發(fā)明涉及一種HfSiON高K柵介質(zhì)材料的腐蝕劑及使用該腐蝕劑的腐蝕方法,屬于集成
電路制造技術(shù)領(lǐng)域。所述腐蝕劑按其重量百分比計(jì)包括0.19%~4.83%的氫氟酸。所述使用該
腐蝕劑的腐蝕方法包括將HfSiON高K柵介質(zhì)材料形成于Si襯底、Si/SiO2界面層或者Si/SiON
界面層上后,將其浸泡在所述的腐蝕劑中進(jìn)行濕法腐蝕。采用本發(fā)明腐蝕劑對HfSiON高K柵
介質(zhì)材料進(jìn)行腐蝕時(shí),可降低氫氟酸水解,從而提高HfSiON高K柵介質(zhì)材料的腐蝕速度并降
低對場氧區(qū)SiO2的腐蝕速度,進(jìn)而提高HfSiON對場氧區(qū)SiO2的選擇比。
其它備注: