專(zhuān)利名稱(chēng): | 提高氮化鎵基場(chǎng)效應(yīng)晶體管肖特基勢(shì)壘的方法 |
專(zhuān)利類(lèi)別: | |
申請(qǐng)?zhí)?/strong>: | 200910303939.4 |
申請(qǐng)日期: | 2009-07-02 |
專(zhuān)利號(hào): | CN101707184A |
第一發(fā)明人: | 趙妙 王鑫華 劉新宇 李誠(chéng)瞻 魏珂 鄭英奎 |
其它發(fā)明人: | |
國(guó)外申請(qǐng)日期: | |
國(guó)外申請(qǐng)方式: | |
專(zhuān)利授權(quán)日期: | |
繳費(fèi)情況: | |
實(shí)施情況: | |
專(zhuān)利證書(shū)號(hào): | |
專(zhuān)利摘要: | 本發(fā)明公開(kāi)了一種提高氮化鎵基場(chǎng)效應(yīng)晶體管肖特基勢(shì)壘的方法,屬于半導(dǎo)體材料器件制作技術(shù)領(lǐng)域。所述方法包括:對(duì)氮化鎵基場(chǎng)效應(yīng)晶體管進(jìn)行清洗;在氮?dú)獗Wo(hù)下對(duì)清洗后的所述氮化鎵基場(chǎng)效應(yīng)晶體管進(jìn)行高溫存儲(chǔ)。通過(guò)本發(fā)明,提高了氮化鎵基場(chǎng)效應(yīng)晶體管的肖特基勢(shì)壘高度,降低了氮化鎵基場(chǎng)效應(yīng)晶體管肖特基的反向漏電,提高了氮化鎵基場(chǎng)效應(yīng)晶體管的功率特性和擊穿特性,解決了氮化鎵基場(chǎng)效應(yīng)晶體管在工作中參數(shù)漂移的問(wèn)題,提高了氮化鎵基場(chǎng)效應(yīng)晶體管的穩(wěn)定性和可靠性。 |
其它備注: | |
科研產(chǎn)出