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專利名稱: 一種調(diào)節(jié)金屬硅化物源/漏肖特基勢(shì)壘高度的方法
專利類別:
申請(qǐng)?zhí)?/strong>: 200910077723.0
申請(qǐng)日期: 2009-02-13
專利號(hào): CN101807526A
第一發(fā)明人: 尚海平 徐秋霞
其它發(fā)明人:
國(guó)外申請(qǐng)日期:
國(guó)外申請(qǐng)方式:
專利授權(quán)日期:
繳費(fèi)情況:
實(shí)施情況:
專利證書(shū)號(hào):
專利摘要: 本發(fā)明公開(kāi)了一種調(diào)節(jié)金屬硅化物源/漏肖特基勢(shì)壘高度的方法,該方法包括:步驟1:采用兩步鎳-自對(duì)準(zhǔn)硅化物工藝形成一硅化鎳膜;步驟2:對(duì)該硅化鎳膜進(jìn)行低能高劑量雜質(zhì)注入;步驟3:對(duì)該硅化鎳膜進(jìn)行快速熱退火。本發(fā)明提供的肖特基勢(shì)壘高度的調(diào)節(jié)方法,可利用現(xiàn)有的設(shè)備,具有工藝簡(jiǎn)單、易行和成本低等優(yōu)點(diǎn),易于集成,實(shí)現(xiàn)了與CMOS工藝的良好兼容。
其它備注: