專利名稱: | 利用多層側墻技術制備納米壓印模版的方法 |
專利類別: | |
申請?zhí)?/strong>: | 200510126492.X |
申請日期: | 2005-12-14 |
專利號: | CN1982202 |
第一發(fā)明人: | 涂德鈺 王叢舜 劉 明 |
其它發(fā)明人: | |
國外申請日期: | |
國外申請方式: | |
專利授權日期: | |
繳費情況: | |
實施情況: | |
專利證書號: | |
專利摘要: | 一種利用多層側墻技術制備納米壓印模版的方法,其工藝步驟如 下:1.在透光基片上淀積一層結構薄膜;2.淀積另外一種材料作為第 二層結構薄膜;3.4.采用化學機械 平坦化或研磨等方法拋光基片表面,得到由第一種與第二種結構材料交 替組成的側墻陣列;5.選擇腐蝕或刻蝕兩種結構材料的側墻,形成納米 壓印模版。 |
其它備注: | |
科研產出