專利名稱: | 提高非揮發(fā)性電阻存儲器可靠性的方法及結(jié)構(gòu) |
專利類別: | 發(fā)明專利 |
申請?zhí)?/strong>: | 201110066233.8 |
申請日期: | 2011-03-18 |
專利號: | |
第一發(fā)明人: | 連文泰,劉明,龍世兵,呂杭炳,劉琦,李穎弢,張森,王艷 |
其它發(fā)明人: | |
國外申請日期: | |
國外申請方式: | |
專利授權(quán)日期: | |
繳費(fèi)情況: | |
實(shí)施情況: | |
專利證書號: | |
專利摘要: | |
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科研產(chǎn)出