專利名稱: | 基于N1dB壓縮點(diǎn)和N2dB壓縮點(diǎn)的三階交調(diào)測試方法 |
專利類別: | 發(fā)明專利 |
申請?zhí)?/strong>: | PCT/CN2011/083453 |
申請日期: | 2011-12-05 |
專利號: | |
第一發(fā)明人: | 趙志儒,閻躍鵬,于進(jìn)勇,張曉飛 |
其它發(fā)明人: | |
國外申請日期: | |
國外申請方式: | |
專利授權(quán)日期: | |
繳費(fèi)情況: | |
實施情況: | |
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專利摘要: | |
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科研產(chǎn)出