| 專利名稱: | 一種用于原位電學(xué)測(cè)試的透射電鏡樣品的制備方法 |
| 專利類別: | 發(fā)明專利 |
| 申請(qǐng)?zhí)?/strong>: | 201110131693.4 |
| 申請(qǐng)日期: | 2011-05-20 |
| 專利號(hào): | 201110131693.4 |
| 第一發(fā)明人: | 劉琦 |
| 其它發(fā)明人: | 劉琦;劉明;龍世兵;呂杭炳;李穎弢;王艷;謝常青 |
| 國外申請(qǐng)日期: | |
| 國外申請(qǐng)方式: | |
| 專利授權(quán)日期: | |
| 繳費(fèi)情況: | |
| 實(shí)施情況: | 授權(quán) |
| 專利證書號(hào): | 201110131693.4 |
| 專利摘要: | |
| 其它備注: | 中國科學(xué)院微電子研究所 |
科研產(chǎn)出