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專利名稱: 掃描測試方法及電路
專利類別: 發(fā)明專利
申請?zhí)?/strong>: 201210249748.6
申請日期: 2012-07-18
專利號: ZL201210249748.6
第一發(fā)明人: 馮燕
其它發(fā)明人: 陳嵐;馮燕
國外申請日期:
國外申請方式:
專利授權(quán)日期:
繳費情況:
實施情況: 授權(quán)
專利證書號: ZL201210249748.6
專利摘要:
其它備注: 中國科學(xué)院微電子研究所