專利名稱: | 掃描測試方法及電路 |
專利類別: | 發(fā)明專利 |
申請?zhí)?/strong>: | 201210249748.6 |
申請日期: | 2012-07-18 |
專利號: | ZL201210249748.6 |
第一發(fā)明人: | 馮燕 |
其它發(fā)明人: | 陳嵐;馮燕 |
國外申請日期: | |
國外申請方式: | |
專利授權(quán)日期: | |
繳費情況: | |
實施情況: | 授權(quán) |
專利證書號: | ZL201210249748.6 |
專利摘要: | |
其它備注: | 中國科學(xué)院微電子研究所 |
科研產(chǎn)出