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專利名稱: 使源/漏區(qū)更接近溝道區(qū)的MOS器件及其制作方法
專利類別: 國際專利
申請?zhí)?/strong>: PCT/CN2012/000476
申請日期: 2012-04-10
專利號: US8841190
第一發(fā)明人: 秦長亮
其它發(fā)明人: 秦長亮;殷華湘
國外申請日期:
國外申請方式:
專利授權(quán)日期:
繳費(fèi)情況:
實(shí)施情況: 授權(quán)
專利證書號: US8841190
專利摘要:
其它備注: 中國科學(xué)院微電子研究所