| 專利名稱: | 利用平行光測(cè)量襯底反射率和透射率的寬光譜光學(xué)量測(cè)系統(tǒng) |
| 專利類別: | 發(fā)明專利 |
| 申請(qǐng)?zhí)?/strong>: | 201210213835.6 |
| 申請(qǐng)日期: | 2012-06-25 |
| 專利號(hào): | 201210213835.6 |
| 第一發(fā)明人: | 王林梓;劉濤;李國(guó)光 |
| 其它發(fā)明人: | |
| 國(guó)外申請(qǐng)日期: | |
| 國(guó)外申請(qǐng)方式: | |
| 專利授權(quán)日期: | |
| 繳費(fèi)情況: | |
| 實(shí)施情況: | 授權(quán) |
| 專利證書(shū)號(hào): | 201210213835.6 |
| 專利摘要: | |
| 其它備注: | 八室一組 |
科研產(chǎn)出