專利名稱: | 一種CMP壓力分布計(jì)算方法及研磨去除率的獲取方法 |
專利類別: | 發(fā)明專利 |
申請?zhí)?/strong>: | 201310571760.3 |
申請日期: | 2013-11-13 |
專利號: | ZL201310571760.3 |
第一發(fā)明人: | 方晶晶;陳嵐;曹鶴 |
其它發(fā)明人: | |
國外申請日期: | |
國外申請方式: | |
專利授權(quán)日期: | |
繳費(fèi)情況: | |
實(shí)施情況: | 授權(quán) |
專利證書號: | ZL201310571760.3 |
專利摘要: | |
其它備注: | EDA中心 |
科研產(chǎn)出