專利名稱: | 集成電路的測試裝置 |
專利類別: | 發(fā)明專利 |
申請?zhí)?/strong>: | 201210576911.X |
申請日期: | 2012-12-26 |
專利號: | 201210576911.X |
第一發(fā)明人: | 謝朝輝;趙明琦;王德坤;劉海南;黑勇;周玉梅 |
其它發(fā)明人: | |
國外申請日期: | |
國外申請方式: | |
專利授權(quán)日期: | |
繳費(fèi)情況: | |
實(shí)施情況: | 授權(quán) |
專利證書號: | 201210576911.X |
專利摘要: | |
其它備注: | 硅器件中心 |
科研產(chǎn)出