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專利名稱: 一種SOI MOS器件閃爍噪聲的測試設備及測試方法
專利類別: 發(fā)明專利
申請?zhí)?/strong>: 201410031166.X
申請日期: 2014-01-23
專利號: 201410031166.X
第一發(fā)明人: 李書振;卜建輝;畢津順;曾傳濱;羅家俊;韓鄭生
其它發(fā)明人:
國外申請日期:
國外申請方式:
專利授權日期:
繳費情況:
實施情況: 授權
專利證書號: 201410031166.X
專利摘要:
其它備注: 硅器件中心